語言:

全视场外差白光干涉测量技术

汝洪武 ; 吴玲玲 ; 张文喜 ; 李杨 / Ru Hongwu ; Wu, Lingling ; Zhang, Wenxi ; Yang, Li

Guang Dian Gong Cheng = Opto-Electronic Engineering, 2020-02, Vol.47 (2), p.190617-82 [同儕審閱期刊]

可取得全文

引用被引用

傳送到

題名:
全视场外差白光干涉测量技术
著者: 汝洪武 ; 吴玲玲 ; 张文喜 ; 李杨 / Ru Hongwu ; Wu, Lingling ; Zhang, Wenxi ; Yang, Li
主題: Accuracy ; Algorithms ; Displacement ; Engineering ; Error analysis ; Experiments ; Free form ; Interference ; Interferometry ; Laboratories ; Light ; Light sources ; Luminous intensity ; Mathematical models ; Measurement techniques ; Optics ; Sensors ; Signal processing ; Surface geometry ; Systems design ; White light interferometry
所屬期刊: Guang Dian Gong Cheng = Opto-Electronic Engineering, 2020-02, Vol.47 (2), p.190617-82
描述: 为了解决传统白光干涉测量技术中对线性位移机构的位移精度要求过高的问题，本文提出了一种全视场外差白光干涉测量技术。该技术主要通过使用存在差频的白光干涉信号作为光源来实现在大扫描步长和低扫描精度条件下相干峰位置的高精度检测。本文首先建立了白光外差干涉的数学模型，再根据数学模型提供的光强信号特性提出了整体系统设计方案，然后对测量方案的可行性进行了实验验证。最后针对多种误差对算法计算精度的影响进行了理论分析和数据对比。误差分析的结果表明：白光外差干涉测量技术提供更高的测量精度和更好的抗干扰性能，有效地降低了传统白光干涉测量对线性位移机构精度的严苛依赖，为光学自由曲面检测技术提供了更多的可选解决方案。
出版者: Chengdu: Editorial Office of Opto-Electronic Advances
語言: 中文;英文
識別號: ISSN: 1003-501X
DOI: 10.12086/oee.2020.190617
資源來源: Publicly Available Content Database
Alma/SFX Local Collection

返回到檢索清單

前一個記錄檢索清單 3 下ㄧ個記錄下ㄧ頁

全视场外差白光干涉测量技术

汝洪武 ; 吴玲玲 ; 张文喜 ; 李杨 / Ru Hongwu ; Wu, Lingling ; Zhang, Wenxi ; Yang, Li

正在檢索遠程資料庫，請稍等