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用于成品率分析芯片的LVS方法

申飞 史峥 潘伟伟 严晓浪

计算机工程, 2011, Vol.37 (22), p.225-227 [同儕審閱期刊]

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  • 題名:
    用于成品率分析芯片的LVS方法
  • 著者: 申飞 史峥 潘伟伟 严晓浪
  • 主題: LVS技术 ; 形式验证 ; 成品率分析芯片 ; 有序二叉判定图
  • 所屬期刊: 计算机工程, 2011, Vol.37 (22), p.225-227
  • 描述: 研究成品率分析芯片的特点和设计流程,提出适用的LVS方法。该方法结合传统的LVS及形式验证,能够解决成品率分析芯片中违反设计规则、版图和电路图不匹配等特殊结构的验证问题。将该方法与传统验证流程相融合,用于成品率分析芯片的设计和验证。实验结果证明,成品率分析芯片验证流程具有正确性和稳定性。
  • 出版者: 浙江大学超大规模集成电路研究所,杭州,310027
  • 語言: 中文
  • 識別號: ISSN: 1000-3428
    DOI: 10.3969/j.issn.1000-3428.2011.22.075
  • 資源來源: Alma/SFX Local Collection
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